| Laurent Sauvage |  |
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Date de l'exposé : 16 octobre 2015, 10h30-11h30, salle Petri/Turing
Impact of Electromagnetic Injection on FPGA: Characterization to Improve Glitch Detection
Les attaques par injection de fautes sont une technique extrêmement puissante pour extraire des secrets d'un système cryptographique. Parmi les moyens de perturbation possibles, le Laser a longtemps été l'outil de prédilection, en particulier pour sa grande précision spatiale. Cependant, il présente plusieurs inconvénients, comme la difficulté de l'utiliser contre des FPGA, dont il a tendance à modifier la fonctionnalité, voire les détruire. Aussi, avec ce genre de composant, un ensemble de détecteurs est une protection efficace, qui plus est d'un coût extrêmement réduit. Malheureusement, il a été récemment démontré que ces derniers pouvaient être contournés lorsque les fautes sont injectées par rayonnement électromagnétique. Dans cette présentation, nous proposons tout d'abord une méthode pour caractériser l'impact d'une telle injection. Ensuite, nous utilisons les résultats obtenus pour étudier le niveau de robustesse d'un ensemble de détecteurs suivant différentes configurations. Enfin, nous déterminons la configuration permettant d'atteindre le meilleur taux de détection.
