Seminar on Security of Embedded Electronic Systems

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Simon Stuker


Recherche de structures dans les graphes pour la comparaison d'un circuit électrique avec le plan spécifié

La fabrication des circuits intégrés multicouches est un processus complexe et couteux. La production est donc souvent réalisée dans des fonderies extérieures au laboratoire de conception, et donne au fabricant la possibilité d'altérer les fonctionnalités du circuit demandé. Il existe des techniques pour vérifier l'adéquation physique du circuit livré avec le plan spécifié (découpe laser, imagerie), mais elles sont généralement onéreuses et très lentes.


Dans cette présentation, je propose des méthodes pour accélérer le processus de vérification, en identifiant les zones les plus sensibles aux modifications. Toutes ces méthodes exploitent la structure locale d'un graphe généré à partir du plan de spécification. Des expérimentations sur un fichier de spécification réel montrent que les méthodes proposées sont réalisables d'un point de vue calculatoire, et permettent d'évaluer la pertinence des différents indicateurs proposés.